Линза с фокусным расстоянием 75см дает резкое изображение окна на стену, если расстояние от линзы до стены равна 1 м.найдите по эти данным расстояние от стены до окна.какова увеличение и оптическая сила данной линзы

Критическая масса — в ядерной физике минимальная масса делящегося вещества, необходимая для начала самоподдерживающейся цепной реакции деления. Коэффициент размножения нейтронов в таком количестве вещества больше единицы или равен единице. Размеры, соответствующие критической массе, также называют критическими.

Величина критической массы зависит от свойств вещества (таких, как сечения деления и радиационного захвата), от плотности, количества примесей, формы изделия, а также от окружения. Например, наличие отражателей нейтронов может сильно уменьшить критическую массу.

В ядерной энергетике параметр критической массы является определяющим при конструировании и расчётах самых разнообразных устройств, использующих в своей конструкции различные изотопы или смеси изотопов элементов в определенных условиях к ядерному делению с выделением колоссального количества энергии. Например, при проектировании мощных радиоизотопных генераторов, в которых используются в качестве топлива уран и ряд трансурановых элементов, параметр критической массы ограничивает мощность такого устройства. При расчётах и производстве ядерного и термоядерного оружия параметр критической массы существенным образом влияет как на конструкцию взрывного устройства, так и на его стоимость и сроки хранения. В случае проектирования и строительства атомного реактора, параметры критической массы также ограничивают как минимальные, так и максимальные размеры будущего реактора.

. Грубые ошибки (промахи), обусловленные неверными отсчетами, или неверными записями показаний приборов, грубой неточностью при настройке приборов, нарушением условий проведения опыта. На грубую ошибку отдельного измерения указывает резкое отличие его результата от предыдущих или последующих результатов. Результат измерения при грубой ошибке исключается.

2. Систематические погрешности, обусловленные причинами, одинаково действующими при всех измерениях, в частности, как результат неверных показаний приборов или неверного метода измерений, постоянного влияния внешнего фактора. Для устранения систематической погрешности используют методы измерений, основанные на сравнении величин, введении поправок в результаты измерений.

Объяснение: