Определить тип химической связи, укажите направление смещения электронов в следующих веществах: 1)С

1)ковалентно полярная связь

2)ковалентно полярная связь

3)ионная связь

4)ковалентно полярная связь

5)ковалентно полярная связь

6)ионная связь

7)ковалентно неполярная связь

8)ионная связь

9)ионная связь

10)ионная связь

Объяснение:

Найменша комірка, яка зберігає усі елементи симетрії кристалу, називається елементарною коміркою.

Навіть у випадку кристалу із одним сортом атомів елементарна комірка містить кілька атомів. Наприклад, кристал заліза має кубічну об'ємноцентровану ґратку із 2 атомами в елементарній комірці. При високих температурах залізо переходить у фазу з ґранецентрованою кубічною ґраткою із 4 атомами в елементарній комірці.

Типи раток

Кристалічні системи

(Сингонія) 14 ґраток Браве

триклінна Triclinic  

моноклінна примітивна базоцентрована  

Monoclinic, simple Monoclinic, centered

ромбічна примітивна базоцентрована об'ємноцентрована гранецентрована

Orthorhombic, simple Orthorhombic, base-centered Orthorhombic, body-centered Orthorhombic, face-centered

гексагональна Hexagonal  

тригональна Rhombohedral  

тетрагональна примітивна об'ємноцентрована  

Tetragonal, simple Tetragonal, body-centered

кубічна примітивна об'ємноцентрована гранецентрована  

Cubic, simple Cubic, body-centered Cubic, face-centered

Основні параметри кристалічних ґраток[1]:

період або параметр ґратки дорівнює довжині ребра ґратки у напрямі головних осей кристалічної ґратки;

координаційне число (К) характеризує щільність пакування ґратки, визначає кількість найближчих і рівновіддалених атомів у певній кристалічній ґратці;

базис — це кількість атомів (іонів), що належать до однієї ґратки;

атомний радіус — це половина відстані між центрами найближчих атомів у кристалічній ґратці певної кристалічної системи;

коефіцієнт компактності — це відношення об'єму, що займають атоми (іони), до всього об'єму ґратки даного типу.

Дефекти кристалічної ґратки

Дефекти кристалічної ґратки. а — незаповнений вузол (вакансія); б — власний атом між вузлами; в — чужорідний атом між вузлами; г — чужорідний атом у вузлі; д — йон з аномальним зарядом.

Розташування структурних елементів у кристалічних ґратках мінералів рідко відповідає цій класичній картині, яка характеризується послідовним розташуванням у ґратці атомів або йонів (так звані ідеальні кристали). На противагу ідеальним кристалам, для яких характерне правильне розташування і періодичність атомів або йонів, реальні кристали відрізняються рядом відхилень — дефектів кристалічної ґратки (дислокацій). Згідно з загальноприйнятою класифікацією, розрізняють такі дефекти кристалічної ґратки (мал.):

пустий вузол, створений внаслідок випадання з ідеальної ґратки атома або йона;

власний атом або йон ґратки, розташований між її вузлами;

чужорідний атом або йон, розташований між вузлами ґратки;

чужорідний атом, який заміщає власний атом ґратки;

йон у ґратці в нормальному стані, але з аномальним зарядом.

Объяснение:

Объяснение:

1. Определим молярные массы газов их плотность по воздуху:

M(NO)=14+16=30г./моль

D(воздух)=M(NO)÷M(воздух)=30г./моль÷29г./моль=1,03

M(N₂)=28г./моль

 D(воздух)=M(N₂)÷M(воздух)=28г./моль÷ 29г./моль=0,96

M(SiH₄)=28+4=32г./моль

D(воздух)=M(SiH₄)÷M(воздух)=32г./моль÷ 29г./моль=1,1

M(H₂)=2г./моль

D(воздух)=M(H₂)÷M(воздух)=2г./моль÷ 29г./моль=0,068

 H₂=0,068;   N₂=0,96;  NO=1,03;   SiH₄=1,1;

→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→→

самый тяжёлый газ силан SiH₄

самый лёгкий газ это водород H₂

D(H₂)=M(SiH₄)÷M(H₂)=32г./моль÷2г./моль=16