Магнитное поле возникает вокруг: 1)движущегося атома2)покоящегося иона3)движущегося электрона !

ответ: 3)движущегося электрона

объяснение:

ответ: ответ 3) вокруг движущегося электрона.

объяснение:

кпд - это отношение полезной работы к затраченой.

то есть n = a(полезная)/а(затраченая) = 0,7

а(полезная) = сm(t2-t1) - полезная работа это количество теплоты, которое мы дали воде, чтобы нагреть ее.

а(затраченая) = pt - затраченая работа, это работа горелки. она расчитывается как произведение мощности горелки на время. мощность мы найдем перемножив напряжение и силу тока. нам известна сила тока, но не известно напряжение. найдем его по формуле: u=ir. все подставляем, выражаем t2. будет выглядеть все это так:

 

n = a(полезн.)/а(затр.) = 0,7

 

n = (c*m*(t2 - t1)) / (i*u*t) =0.7

 

n = (4200 * (t2 - 20)) / 6000 = 0.7

 

(4200*t2 - 84000) / 6000 = 0.7

 

  t2 = (0.7 * 6000 + 84000) / 4200 = 21

 

ответ: 21. 

немного изменил. 

Принцип действия измерительных приборов  со шкалой основан на применении электрических устройств, преобразующих перемещения измерительного щупа в изменения силы тока или напряжения, регистрируемые электроизмерительным прибором, по шкале которого ведется отсчет показаний измерения.  [1] принцип действия измерительных приборов  со шкалой основан на применении j электрических устройств, преобразующих перемещения измерительного шупа в изменения силы тока или напряжения, регистрируемые электроизмерительным: прибором, по шкале которого ведется отсчет показаний измерения.  [2] по учебнику изучите устройство и  принцип действия измерительных приборов  магнитоэлектрической, электромагнитной и электродинамической систем, выясните назначение отдельных узлов и деталей. пользуясь формулами для вращающих моментов каждой из этих систем, определите область их применения, установите, у каких из этих приборов шкала равномерная, а у каких-неравномерная, на какой род тока они реагируют.  [3] на взаимодействии проводников с током основан  принцип действия электродинамических и ферродинами-ческих измерительных приборов.  [4] в работе на разборных образцах изучается устройство и  принципы действия измерительных приборовмагнитоэлектрической, электромагнитной и электродинамической систем.  [5] для прямых измерений, где принцип, как правило, однозначно определяется  принципом действия измерительного прибора, совокупность методических приемов ( описание метода) носит метрологический характер. такие общие метрологические приемы, называемые прямых измерений, позволяют в ряде случаев исключать ( или компенсировать) наиболее существенные систематические погрешности измерений.  [6] в основе применения данного метода лежит использование эффекта того или иного явления, на котором основан  принцип действия измерительного прибора. так, например, измерение постоянного тока методом непосредственной оценки может быть выполнено на основе использования эффекта механического взаимодействия магнитного поля и измеряемого тока.  [7] действующее значение измеряют приборами электромагнитной, электродинамической и тепловой систем.принцип действия измерительных приборов различных систем  изучают в курсе электротехнических измерений.  [8] действующее значение измеряют приборами электромагнитной, электродина-мической и тепловой систем.принцип действия измерительных приборов различных систем  изучают в курсе электрических измерений.  [9] действующее значение измеряют приборы электромагнитной, электродинамической и тепловой систем.принцип действия измерительных приборов различных систем  изучается в курсе электрических измерений.  [10] действующее значение измеряют приборы электромагнитной, электродинамической и тепловой систем.принцип действия измерительных приборов различных систем  изучается в курсе электрических измерений.  [11] действующее значение измеряют приборами электромагнитной, электродинамической и тепловой систем.принцип действия измерительных приборов различных систем  изучают в курсе электрических измерений.  [12] необходимо провести измерения на образцах с различными толщинами слоя. следует описать  принцип действия примененных измерительных приборов, причем выбор соответствующих измерительных приборов может происходить в соответствии с каждой определенной проблемой измерения.  [13]